X線回折計

X線回折計　X-ray diffractometers

Rigaku AFC-8 Mecury2 Diffractometer

物質にX線（Mo Kα線）を照射し、Braggの法則に基づく回折X線を観測することで結晶構造を特定します。 こちらの装置は出力は上記の装置より劣りますが、Mo線源を使っているため測定可能な逆空間が広く、CCD検出器との組み合わせにより高分解能の測定が可能です。

Bruker D8 Advance Diffractometer

粉末状試料にX線（Cu Kα線）を照射し、Braggの法則に基づく回折X線を観測することで結晶構造を特定します。一次元半導体検出器を装備しているため、迅速な測定が可能で、すでに結晶構造が知られている化合物であれば、数分～数十分で容易に同定が可能です。温度可変ステージやキャピラリーステージへに付け替えも可能であり 100 〜 400 Kの温度範囲で粉末X線回折パターンを測定することができます。